磁性材料鍍層測厚儀技術(shù)參數(shù) 

1   分析元素范圍：S-U2   可分析多達3層以上鍍層3   分析厚度檢出限達0.02μm4   多次測量重復(fù)性可達0.05μm5   定位精度：0.5mm5   測量時間：30s-300s

6   計數(shù)率：1000-8000cps

1國標GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000

 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量X射線光譜方法2.美國標準A754/A754M-08Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence

鍍層厚度分析；

RoHS指令中Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl檢測；

合金成分分析；

7  儀器適合測試平面。以單層Fe鍍Ni的標樣為例，分析的范圍是0.02—30um，在這個范圍內(nèi)，才能檢測。0.5-10um的，偏差是5%，就是說真值是1um，用儀器測試的值是0.95-1.05um。

優(yōu)勢 

公司有完善的質(zhì)量管理體系，從進口核心零部件的檢測開始，到儀器的組裝，數(shù)據(jù)的標定及考核，均嚴格把關(guān)，能夠很好的控制產(chǎn)品的質(zhì)量。公司嚴格按ISO9001質(zhì)量體系的要求，進行產(chǎn)品質(zhì)量的管理，每道工序進行嚴格的檢驗，絕不允許不合格的流到下到工序；不合格的產(chǎn)品不出廠，堅決做到“三不"和“三不放過"，確保產(chǎn)品質(zhì)量可靠，用戶使用放心。 

磁性材料鍍層測厚儀性能優(yōu)勢

下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求準直器和濾光片手動切換：不同樣品材質(zhì)用不同的準直器移動平臺：精細的手動移動平臺，方便定位測試點高分辨率探測器：提高分析的準確性新一代的高壓電源和X光管：性能穩(wěn)定可靠，高達50W的功率實現(xiàn)更高的測試效率 

硬件配置 

1. 探測器

2. 高、低壓電源

3. X光管                              

4. MCA多道分析器

5. 高精密攝像頭

6. 移動平臺（自動）

7. 準直器

8. 標準樣品