鍍銀層測(cè)厚儀XD-1000應(yīng)用領(lǐng)域

鐵基----□Fe/Zn,□Fe/Cu，□Fe/Ni，□Fe/Cu/Sn，□Fe/Cu/Au，□Fe/Cu/Ni，□Fe/Cu/Ni/Cr，        
  □Fe/Cu/Ni/Au，□Fe/Cu/Ni/Ag銅基----□Cu/Ni，□Cu/Ag，□Cu/Au，□Cu/Sn，□Cu/Ni/Sn，□Cu/Ni/Ag，□Cu/Ni/Au，□Cu/Ni/Cr鋅基----□Zn/Cu，□Zn/Cu/Ag，□Zn/Cu/Au鎂鋁合金----□Al/Cu，□Al/Ni，□Al/Cu/Ag，□Al/Cu/Au塑膠基體----plastic/Cu/Ni，plastic/Cu/Ni/Cr

性能特點(diǎn)

鍍銀層測(cè)厚儀采用下照式：適合平面樣品的鍍層測(cè)試需求；準(zhǔn)直器和濾光片：多種準(zhǔn)直器和濾光片的電動(dòng)切換，滿足不同樣品材質(zhì)和形狀的檢測(cè)；移動(dòng)平臺(tái)：精細(xì)的手動(dòng)移動(dòng)平臺(tái)，方便定位測(cè)試點(diǎn)；高分辨率探測(cè)器：提高分析的準(zhǔn)確性；新一代的高壓電源和X光管：性能穩(wěn)定可靠，高達(dá)100W的功率實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試效率。

鍍銀層測(cè)厚儀XD-1000技術(shù)參數(shù)  

1   分析元素范圍：S-U

2   同時(shí)可分析多達(dá)3層以上鍍層

3   分析厚度檢出限達(dá)0.01μm

4   多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)0.05μm

5   定位精度：0.5mm5   測(cè)量時(shí)間：30s-300s

6   計(jì)數(shù)率：1300-8000cps

7 儀器適合測(cè)試平面。以單層Fe鍍Ni的標(biāo)樣為例，分析的范圍是0.01—30um，在這個(gè)范圍內(nèi)，才能檢測(cè)。0.5-10um的，偏差是5%，就是說(shuō)真值是1um，用儀器測(cè)試的值是0.95-1.05um。